基本信息
标准名称: | 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 |
英文名称: | Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry |
中标分类: | |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部 |
发布日期: | 1998-03-18 |
实施日期: | 1998-05-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草人: | 李兆瑞、刘筠 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 1998-04-01 |
页数: | 5页 |
适用范围
本规范规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本规范适用于X值在0.100~0.350mol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。
前言
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目录
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