【英文标准名称】:StandardSpecificationforCopper-SiliconAlloyWireforGeneralApplications(Metric)
【原文标准名称】:一般应用的铜硅合金线(米制)的标准规范
【标准号】:ASTMB99M-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;硅;铜合金线;C65500;一般用途的硅合金线;硅合金;硅青铜;UNSC65100;UNSC65100低硅铜B;UNSC65000高硅铜A;铜
【英文主题词】:silicon;copper;b?99m;copperalloywire;c65500;siliconalloywireforgeneralpurposes;siliconalloys;siliconbronze;unsc65100;unsc65100lowsiliconbronzeb;unsc65500highsiliconbronzea;wirecu
【摘要】:
【中国标准分类号】:H62
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforQuenchingTimeofHeat-TreatingFluids(MagneticQuenchometerMethod)
【原文标准名称】:热处理液体淬火时间的标准试验方法(磁性淬火方法)
【标准号】:ASTMD3520-1988
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:液体;淬火;润滑剂;淬火时间;石油产品;试验
【英文主题词】:quenching;testing;lubricants;liquids;quenchingtime;petroleumproducts
【摘要】:
【中国标准分类号】:J36
【国际标准分类号】:75_120
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
| 英文名称： | Extrinsic semiconductor single crystals; Measurement of Hall mobility and Hall coefficient |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
|
| 替代情况： | 被GB/T 4326-2006代替 |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1984-04-12 |
| 实施日期： | 1985-03-01 |
| 首发日期： | 1984-04-12 |
| 作废日期： | 2006-11-01 |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： | 有色金属研究总院 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 11页 |
适用范围
本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法